In this work the design of a constant fraction discriminator (CFD) to be used in the VFAT3 chip for the read-out of the triple-GEM detectors of the CMS experiment, is described. A prototype chip containing 8 CFDs was implemented using 130 nm CMOS technology and test results are shown. © CERN 2016.
Design of a constant fraction discriminator for the VFAT3 front-end ASIC of the CMS GEM detector / Abbaneo, D.; Abbas, M.; Abbrescia, M.; Abdelalim, A. A.; Akl, M. Abi; Aboamer, O.; Acosta, D.; Ahmad, A.; Ahmed, W.; Ahmed, W.; Aleksandrov, A.; Aly, R.; Altieri, P.; Asawatangtrakuldee, C.; Aspell, P.; Assran, Y.; Awan, I.; Bally, S.; Ban, Y.; Banerjee, S.; Barashko, V.; Barria, P.; Bencze, G.; Beni, N.; Benussi, L.; Bhopatkar, V.; Bianco, S.; Bos, J.; Bouhali, O.; Braghieri, A.; Braibant, S.; Buontempo, S.; Calabria, C.; Caponero, M.; Caputo, C.; Cassese, F.; Castaneda, A.; Cauwenbergh, S.; Cavallo, F. R.; Celik, A.; Choi, M.; Choi, S.; Christiansen, J.; Cimmino, A.; Colafranceschi, S.; Colaleo, A.; Garcia, A. Conde; Czellar, S.; Dabrowski, M. M.; Lentdecker, G. De; Oliveira, R. De; De Robertis, G.; Dildick, S.; Dorney, B.; Elmetenawee, W.; Endroczi, G.; Errico, F.; Fenyvesi, A.; Ferry, S.; Furic, I.; Giacomelli, P.; Gilmore, J.; Golovtsov, V.; Guiducci, L.; Guilloux, F.; Gutierrez, A.; Hadjiiska, R. M.; Hassan, A.; Hauser, J.; Hoepfner, K.; Hohlmann, M.; Hoorani, H.; Iaydjiev, P.; Jeng, Y. G.; Kamon, T.; Karchin, P.; Korytov, A.; Krutelyov, S.; Kumar, A.; Kim, H.; Lee, J.; Lenzi, T.; Litov, L.; Loddo, F; Madorsky, A.; Maerschalk, T.; Maggi, M.; Magnani, A.; Mal, P. K.; Mandal, K.; Marchioro, A.; Marinov, A.; Masod, R.; Majumdar, N.; Merlin, J. A.; Mitselmakher, G.; Mohanty, A. K.; Mohamed, S.; Mohapatra, A.; Molnar, J.; Muhammad, S.; Mukhopadhyay, S.; Naimuddin, M.; Nuzzo, S.; Oliveri, E.; Pant, L. M.; Paolucci, P.; Park, I.; Passeggio, G.; Pavlov, B.; Philipps, B.; Piccolo, D.; Postema, H.; Baranac, A. Puig; Radi, A.; Radogna, R.; Raffone, G.; Ranieri, A.; Rashevski, G.; Riccardi, C.; Rodozov, M.; Rodrigues, A.; Ropelewski, L.; Roychowdhury, S.; Ryu, G.; Ryu, M. S.; Safonov, A.; Salva, S.; Saviano, Giovanna; Sharma, A.; Sharma, A.; Sharma, R.; Shah, A. H.; Shopova, M.; Sturdy, J.; Sultanov, G.; Swain, S. K.; Szillasi, Z.; Talvitie, J.; Tamma, C.; Tatarinov, A.; Tuuva, T.; Tytgat, M.; Vai, I.; Stenis, M. Van; Venditti, R.; Verhagen, E.; Verwilligen, P.; Vitulo, P.; Volkov, S.; Vorobyev, A.; Wang, D.; Wang, M.; Yang, U.; Yang, Y.; Yonamine, R.; Zaganidis, N.; Zenoni, F.; Zhang, A.. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - ELETTRONICO. - 11:1(2016). [10.1088/1748-0221/11/01/C01023]
Design of a constant fraction discriminator for the VFAT3 front-end ASIC of the CMS GEM detector
Abbaneo, D.; Abbas, M.; Abbrescia, M.; Abdelalim, A. A.; Akl, M. Abi; Aboamer, O.; Acosta, D.; Ahmad, A.; Ahmed, W.; Ahmed, W.; Aleksandrov, A.; Aly, R.; Altieri, P.; Asawatangtrakuldee, C.; Aspell, P.; Assran, Y.; Awan, I.; Bally, S.; Ban, Y.; Banerjee, S.; Barashko, V.; Barria, P.; Bencze, G.; Beni, N.; Benussi, L.; Bhopatkar, V.; Bianco, S.; Bos, J.; Bouhali, O.; Braghieri, A.; Braibant, S.; Buontempo, S.; Calabria, C.; Caponero, M.; Caputo, C.; Cassese, F.; Castaneda, A.; Cauwenbergh, S.; Cavallo, F. R.; Celik, A.; Choi, M.; Choi, S.; Christiansen, J.; Cimmino, A.; Colafranceschi, S.; Colaleo, A.; Garcia, A. Conde; Czellar, S.; Dabrowski, M. M.; Lentdecker, G. De; Oliveira, R. De; De Robertis, G.; Dildick, S.; Dorney, B.; Elmetenawee, W.; Endroczi, G.; Errico, F.; Fenyvesi, A.; Ferry, S.; Furic, I.; Giacomelli, P.; Gilmore, J.; Golovtsov, V.; Guiducci, L.; Guilloux, F.; Gutierrez, A.; Hadjiiska, R. M.; Hassan, A.; Hauser, J.; Hoepfner, K.; Hohlmann, M.; Hoorani, H.; Iaydjiev, P.; Jeng, Y. G.; Kamon, T.; Karchin, P.; Korytov, A.; Krutelyov, S.; Kumar, A.; Kim, H.; Lee, J.; Lenzi, T.; Litov, L.; Loddo, F; Madorsky, A.; Maerschalk, T.; Maggi, M.; Magnani, A.; Mal, P. K.; Mandal, K.; Marchioro, A.; Marinov, A.; Masod, R.; Majumdar, N.; Merlin, J. A.; Mitselmakher, G.; Mohanty, A. K.; Mohamed, S.; Mohapatra, A.; Molnar, J.; Muhammad, S.; Mukhopadhyay, S.; Naimuddin, M.; Nuzzo, S.; Oliveri, E.; Pant, L. M.; Paolucci, P.; Park, I.; Passeggio, G.; Pavlov, B.; Philipps, B.; Piccolo, D.; Postema, H.; Baranac, A. Puig; Radi, A.; Radogna, R.; Raffone, G.; Ranieri, A.; Rashevski, G.; Riccardi, C.; Rodozov, M.; Rodrigues, A.; Ropelewski, L.; Roychowdhury, S.; Ryu, G.; Ryu, M. S.; Safonov, A.; Salva, S.; SAVIANO, Giovanna ;Sharma, A.; Sharma, A.; Sharma, R.; Shah, A. H.; Shopova, M.; Sturdy, J.; Sultanov, G.; Swain, S. K.; Szillasi, Z.; Talvitie, J.; Tamma, C.; Tatarinov, A.; Tuuva, T.; Tytgat, M.; Vai, I.; Stenis, M. Van; Venditti, R.; Verhagen, E.; Verwilligen, P.; Vitulo, P.; Volkov, S.; Vorobyev, A.; Wang, D.; Wang, M.; Yang, U.; Yang, Y.; Yonamine, R.; Zaganidis, N.; Zenoni, F.; Zhang, A.
2016
Abstract
In this work the design of a constant fraction discriminator (CFD) to be used in the VFAT3 chip for the read-out of the triple-GEM detectors of the CMS experiment, is described. A prototype chip containing 8 CFDs was implemented using 130 nm CMOS technology and test results are shown. © CERN 2016.
Citazione
Design of a constant fraction discriminator for the VFAT3 front-end ASIC of the CMS GEM detector / Abbaneo, D.; Abbas, M.; Abbrescia, M.; Abdelalim, A. A.; Akl, M. Abi; Aboamer, O.; Acosta, D.; Ahmad, A.; Ahmed, W.; Ahmed, W.; Aleksandrov, A.; Aly, R.; Altieri, P.; Asawatangtrakuldee, C.; Aspell, P.; Assran, Y.; Awan, I.; Bally, S.; Ban, Y.; Banerjee, S.; Barashko, V.; Barria, P.; Bencze, G.; Beni, N.; Benussi, L.; Bhopatkar, V.; Bianco, S.; Bos, J.; Bouhali, O.; Braghieri, A.; Braibant, S.; Buontempo, S.; Calabria, C.; Caponero, M.; Caputo, C.; Cassese, F.; Castaneda, A.; Cauwenbergh, S.; Cavallo, F. R.; Celik, A.; Choi, M.; Choi, S.; Christiansen, J.; Cimmino, A.; Colafranceschi, S.; Colaleo, A.; Garcia, A. Conde; Czellar, S.; Dabrowski, M. M.; Lentdecker, G. De; Oliveira, R. De; De Robertis, G.; Dildick, S.; Dorney, B.; Elmetenawee, W.; Endroczi, G.; Errico, F.; Fenyvesi, A.; Ferry, S.; Furic, I.; Giacomelli, P.; Gilmore, J.; Golovtsov, V.; Guiducci, L.; Guilloux, F.; Gutierrez, A.; Hadjiiska, R. M.; Hassan, A.; Hauser, J.; Hoepfner, K.; Hohlmann, M.; Hoorani, H.; Iaydjiev, P.; Jeng, Y. G.; Kamon, T.; Karchin, P.; Korytov, A.; Krutelyov, S.; Kumar, A.; Kim, H.; Lee, J.; Lenzi, T.; Litov, L.; Loddo, F; Madorsky, A.; Maerschalk, T.; Maggi, M.; Magnani, A.; Mal, P. K.; Mandal, K.; Marchioro, A.; Marinov, A.; Masod, R.; Majumdar, N.; Merlin, J. A.; Mitselmakher, G.; Mohanty, A. K.; Mohamed, S.; Mohapatra, A.; Molnar, J.; Muhammad, S.; Mukhopadhyay, S.; Naimuddin, M.; Nuzzo, S.; Oliveri, E.; Pant, L. M.; Paolucci, P.; Park, I.; Passeggio, G.; Pavlov, B.; Philipps, B.; Piccolo, D.; Postema, H.; Baranac, A. Puig; Radi, A.; Radogna, R.; Raffone, G.; Ranieri, A.; Rashevski, G.; Riccardi, C.; Rodozov, M.; Rodrigues, A.; Ropelewski, L.; Roychowdhury, S.; Ryu, G.; Ryu, M. S.; Safonov, A.; Salva, S.; Saviano, Giovanna; Sharma, A.; Sharma, A.; Sharma, R.; Shah, A. H.; Shopova, M.; Sturdy, J.; Sultanov, G.; Swain, S. K.; Szillasi, Z.; Talvitie, J.; Tamma, C.; Tatarinov, A.; Tuuva, T.; Tytgat, M.; Vai, I.; Stenis, M. Van; Venditti, R.; Verhagen, E.; Verwilligen, P.; Vitulo, P.; Volkov, S.; Vorobyev, A.; Wang, D.; Wang, M.; Yang, U.; Yang, Y.; Yonamine, R.; Zaganidis, N.; Zenoni, F.; Zhang, A.. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - ELETTRONICO. - 11:1(2016). [10.1088/1748-0221/11/01/C01023]
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